Исследование сверхпроводящей тонкой пленки NbSi для WSSPD стеехиометрии. Цель - изучение сверхпроводящих свойств и применение в WSSPD. Научная новизна - исследование материала для стеехиометрии. Задачи: анализ свойств, изучение влияния стеехиометрии, определение применимости в WSSPD.
Название: «Сверхпроводящая тонкая пленка NbSi для WSSPD стеехиометрия»
Тип: Курсовая работа
Объект исследования: Сверхпроводящая тонкая пленка NbSi
Предмет исследования: WSSPD стеехиометрия
Методы исследования: Экспериментальные методы анализа, спектроскопия, микроскопия и т.д.
Научная новизна: Исследование сверхпроводящих свойств тонкой пленки NbSi для применения в WSSPD стеехиометрии
Цель проекта: Изучение сверхпроводящих свойств пленки NbSi и их применение в WSSPD стеехиометрии
Проблема: Недостаточное изучение сверхпроводящих материалов для применения в WSSPD стеехиометрии
Целевая аудитория: Специалисты в области физики твердого тела, исследователи в области сверхпроводимости
Задачи проекта:
1. Провести анализ сверхпроводящих свойств пленки NbSi
2. Изучить влияние стеехиометрии на сверхпроводимость
3. Определить возможности применения данной пленки в WSSPD системах
Добавить иллюстрации (beta)
Содержание
- Основные принципы сверхпроводимости
- Структура и свойства тонких пленок NbSi
- Особенности WSSPD стеехиометрии
- Экспериментальные методы анализа сверхпроводящих свойств
- Спектроскопия и микроскопия
- Методы изучения стеехиометрии
- Анализ сверхпроводящих свойств пленки NbSi
- Влияние стеехиометрии на сверхпроводимость
- Возможности применения пленки в WSSPD системах